(19)国家知识产权局
(12)发明 专利申请
(10)申请公布号
(43)申请公布日
(21)申请 号 202211059131.8
(22)申请日 2022.08.31
(71)申请人 昆明理工大 学
地址 650031 云南省昆明市五华区一 二一
大街文昌路68号
申请人 云南前沿液态金属研究院有限公司
(72)发明人 种晓宇 宋平 冯晶 宋东明
余威 林洋 母昆阳 杨志恒
(74)专利代理 机构 重庆德立创新专利代理事务
所(普通合伙) 50299
专利代理师 隋金艳
(51)Int.Cl.
G06F 30/20(2020.01)
G06F 119/08(2020.01)
(54)发明名称
基于第一性原理筛选超低熔点共晶合金熔
接材料的方法
(57)摘要
本发明公开了基于第一性原理筛选超低熔
点共晶合金熔接 材料的方法, 包括获取Sn ‑In‑TM
体系中存在的晶体结构, 基于密度泛函理论的第
一性原理计算方法, 高精度的结构驰豫获得了
Sn‑In‑TM体系中各晶体结构的基本物相信息, 并
计算了Sn ‑In‑TM体系中晶体 结构的热力学性质,
进一步结合CALPHAD模型, 建立了Sn ‑In‑TM体系
的热力学模型, 分析共晶点的成分和温度。 筛选
出来一种超低熔点共晶合金熔接材料: 其成分比
为Sn:In: Bi=(18.15 ‑22.76):(30.57 ‑33.54):
(41.58‑45.31)。 这种超低熔点共晶合金熔接材
料的共晶点温度在41.6 ‑45.7℃, 该超低熔点共
晶合金熔接材料成分的比例是首次发现, 具有超
低熔点, 造粉质量高、 无粘结现象等优点。
权利要求书2页 说明书16页 附图7页
CN 115422744 A
2022.12.02
CN 115422744 A
1.基于第一性原理筛选超低熔点共晶合金熔接材料的方法, 其特征在于, 包括以下内
容:
步骤1, 获取Sn ‑In‑TM体系中存在的二元晶体结构, 其中TM代表Sb、 Ag、 Zn、 B i、 Cu中的一
种;
步骤2, 分别 对截断能和k点网格密度进行收敛性测试, 选取能量最低点对应的截断能,
选取能量 最低点对应的k 点网格密度;
步骤3, 基于密度泛函理论的第一性原理计算方法, 对各二元晶体结构, 进行低精度的
结构优化, 能量的收敛准则为10‑6eV, 力的收敛准则为
然后分别对低精度优化后
的各二元晶体结构进行高精度的结构优化, 能量的收敛准则为10‑8eV, 力的收敛准则为
达到收敛标准后, 基于高精度优化后的各二元晶体结构, 分别计算基本物相信
息;
步骤4, 基于高精度优化后的各二元晶体结构, 对各二元晶体结构进行声子谱计算, 筛
选声子谱无虚频的二元晶体结构;
步骤5, 基于准简谐近似方法, 分别对筛选出的声子谱无虚频的各二元晶体结构进行热
学性能的计算;
步骤6, 基于计算的各二元晶体结构的热学性能, 得到热力学数据, 结合CALPHAD模型,
根据热力学 数据优化CALPHAD模型参数, 建立Sn ‑In‑TM体系的热力学模型;
步骤7, 基于Sn ‑In‑TM体系的热力学模型, 获得Sn ‑In‑TM体系的液相投影面, 分析共晶
点的成分比和温度, 筛 选出超低熔点共晶合金 熔接材料。
2.根据权利要求1所述的基于第一性原理筛选超低熔点共晶合金熔接材料的方法, 其
特征在于, 步骤2具体包括: 测试截断能时, 选取k点网格密度4*4*4, 固定其他参数, 分别测
试150,200,250,300,350,400,450,500不同截断能下对应的能量, 选取能量最低 点对应的
截断能450; 然后测试k点网格密度, 选取截断能为450, 固定其他参数, 分别测试4*4*4, 6*6*
6, 8*8*8,10 *10*10不同k 点网格密度下的能量, 选取能量 最低点对应的k 点网格密度8*8*8。
3.根据权利要求1所述的基于第一性原理筛选超低熔点共晶合金熔接材料的方法, 其
特征在于, 步骤3具体包括:
步骤3.1, 设置参数优化参数 “ISIF=3, IBRION=2 ”, 分别对Sn ‑In二元晶体结构、 In ‑Bi
二元晶体结构和Sn ‑Bi二元晶体结构进行低精度 结构优化, 能量的收敛准则为10‑6eV, 力的
收敛准则为
步骤3.2, 低精度结构优化完成后, 基于低精度结构优化后的Sn ‑In二元晶体结构、 In ‑
Bi二元晶体结构和Sn ‑Bi二元晶体结构再次进行高精度的结构优化, 能量的收敛准则为10‑
8eV, 力的收敛准则为
两次结构优化之后没有达到收敛标准, 修改优化参数为
“ISIF=2, IBRION =1”, 继续进行优化, 达 到收敛标准;
步骤3.3, 基于高精度结构优化后的结构能量, 分别计算基本物相信息, 所述基本物相
信息包括形成焓, 利用形成焓计算公式分别计算各二元晶体结构的形成焓。
4.根据权利要求1所述的基于第一性原理筛选超低熔点共晶合金熔接材料的方法, 其
特征在于, 步骤4具体包括:
步骤4.1, 设置参数 “ISIF=2, IBRION=8 ”, 利用Phonopy有限位移 法逐个对各二元晶体权 利 要 求 书 1/2 页
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2结构进行声子谱计算, 声子谱高对称点处存在虚频;
步骤4.2, 对高精度 结构优化后的各二元晶体结构再次进行结构优化, 把力的收敛准则
提高到
能量的收敛准则不变, 分别对各二元晶体结构进行2*2*2的扩胞, 对应的
高对称k点设置缩小一半, 再次进行声子谱计算, 直到声子谱无虚频。
5.根据权利要求1所述的基于第一性原理筛选超低熔点共晶合金熔接材料的方法, 其
特征在于, 所述 步骤6包括:
CALPHAD模型如下:
化合物在不同温度下的吉布斯能如下 所示:
其中a,b,c,d,e和f是模型参数, 由上面描述的第一性原理的准简谐计算得到的热力学
数据评估得到, HSER是最稳定单质在2 98.15K和1bar下的焓作为 参考态。
6.根据权利要求5所述的基于第一性原理筛选超低熔点共晶合金熔接材料的方法, 其
特征在于, 步骤6进一 步包括:
液相的吉布斯能表达式为:
其中yi是组元i在液相中的摩尔分数,xsGL是过剩吉布斯能相,
代表纯液相的吉布
斯能;
过剩吉布斯能xsGL的形式为:
其中
是组元i和j之间的vth阶交 互作用参数, 由下式得到:
模型参数v,LiqA和v,LiqB是由热力学 数据和液相 相关的相边界数据评估得到 。
7.根据权利要求6所述的基于第一性原理筛选超低熔点共晶合金熔接材料的方法, 其
特征在于, Sn ‑In‑Bi体系的热力学模型为:
8.根据权利要求1 ‑7任一项所述的基于第 一性原理筛选超低熔点共晶合金熔接材料的
方法, 其特征在于, 从Sn ‑In‑Bi体系的筛选出的Sn:In:Bi的成分比为(18.15 ‑22.76):
(30.57‑33.54):(41.58 ‑45.31), 共晶点温度为 41.6‑45.7℃。权 利 要 求 书 2/2 页
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专利 基于第一性原理筛选超低熔点共晶合金熔接材料的方法
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