(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202110637696.9 (22)申请日 2021.06.08 (71)申请人 寒武纪 （昆山） 信息科技有限公司 地址 215300 江苏省苏州市昆山市玉山 镇 元丰路232号5号房 (72)发明人 不公告发明人 　 (74)专利代理 机构 北京维昊知识产权代理事务 所(普通合伙) 11804 专利代理师 李波 (51)Int.Cl. G06F 30/27(2020.01) G06N 3/04(2006.01) G06N 3/08(2006.01) G06T 7/00(2017.01) (54)发明名称 校正坏点的装置、 板卡、 方法及可读存储介 质 (57)摘要 本发明涉及利用训练数据在神经网络模型 中校正坏点的装置、 板卡、 方法及可读 存储介质， 其中本发明的计算装置包括在集成电路装置中， 该集成电路装置包括通用互联接口和其他处理 装置。 计算装置与其他处理装置进行交互， 共同 完成用户指定的计算操作。 集 成电路装置还可以 包括存储装置， 存储装置分别与计算装置和其他 处理装置连接， 用于计算装置和其他处理装置的 数据存储。 权利要求书2页 说明书12页 附图6页 CN 115455798 A 2022.12.09 CN 115455798 A 1.一种利用训练数据在神经网络模型中校正坏点的方法， 所述神经网络模型用以执行 图像信号处 理的任务， 所述方法包括： 随机在所述训练数据中仿真多个坏点， 以生成仿真数据； 基于所述仿真数据对所述神经网络模型进行训练； 以及 将图像数据输入至训练后的神经网络模型以执行所述任务， 以获得校正坏点后的计算 结果。 2.根据权利要求1所述的方法， 其中所述多个坏点包括静态坏点， 所述仿真数据载有所 述静态坏点中的静态亮点及静态暗点的信息 。 3.根据权利要求2所述的方法， 其中所述静态亮点及所述静态暗点出现在所述训练数 据里多帧画面中的固定位置， 所述固定位置随机生成。 4.根据权利要求1所述的方法， 其中所述多个坏点包括动态坏点， 所述仿真数据载有所 述动态坏点的信息 。 5.根据权利要求4所述的方法， 其中所述动态坏点出现在所述训练数据里多帧画面中 的随机位置 。 6.根据权利要求 4所述的方法， 所述仿真步骤 还包括： 设定上阈值及阈值触发率； 判断所述阈值触发率是否被满足； 如是， 判断所述训练数据里的像素的数值是否大于所述上阈值； 以及 如大于所述上阈值， 设定所述数值 为1。 7.根据权利要求6所述的方法， 其中所述上阈值 为0.8。 8.根据权利要求 4所述的方法， 所述仿真步骤 还包括： 设定下阈值及阈值触发率； 判断所述阈值触发率是否被满足； 如是， 判断所述训练数据里的像素的数值是否小于所述下阈值； 以及 如小于所述下阈值， 设定所述数值 为0。 9.根据权利要求8所述的方法， 其中所述下阈值 为0.2。 10.根据权利要求1所述的方法， 所述仿真步骤 还包括： 设定多个坏点显现率， 每 个坏点显现率对应特定大小的像素群； 以及 根据所述坏点显现率决定相对应特定大小的像素群在所述训练数据里 出现的次数。 11.一种计算机可读存储介质， 其上存储有利用训练数据在神经网络模型中校正坏点 的计算机程序 代码， 当所述计算机程序 代码由处理装置运行时， 执行权利要求 1至10任一项 所述的方法。 12.一种利用训练数据在神经网络模型中校正坏点的集成电路装置， 包括： 处理装置， 用以随机在所述训练数据中仿真多个坏点， 以生成仿真数据； 计算装置， 用以： 基于所述仿真数据对所述神经网络模型进行训练； 以及 将图像数据输入至训练后的神经网络模型以执行所述任务， 以获得校正坏点后的计算 结果。 13.根据权利要求12所述的集成电路装置， 其中所述多个坏点包括静态坏点， 所述仿真权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115455798 A 2数据载有所述静态坏点中的静态亮点及静态暗点的信息 。 14.根据权利要求13所述的集成电路装置， 其中所述静态亮点及所述静态暗点出现在 所述训练数据里多帧画面中的固定位置， 所述固定位置由所述处 理装置随机生成。 15.根据权利要求14所述的集成电路装置， 其中所述多个坏点包括动态坏点， 所述仿真 数据载有所述动态坏点的信息 。 16.根据权利要求15所述的集成电路装置， 其中所述动态坏点出现在所述训练数据里 多帧画面中的随机位置 。 17.根据权利要求15所述的集成电路装置， 其中所述处 理装置还用以： 设定上阈值及阈值触发率； 以及 判断所述阈值触发率是否被满足， 如是， 判断所述训练数据里的像素的数值是否大于 所述上阈值， 如大于所述上阈值， 设定所述数值 为1。 18.根据权利要求17 所述的集成电路装置， 其中所述上阈值 为0.8。 19.根据权利要求15所述的集成电路装置， 其中所述处 理装置还用以： 设定下阈值及阈值触发率； 以及 判断所述阈值触发率是否被满足， 如是， 判断所述训练数据里的像素的数值是否小于 所述下阈值， 如小于所述下阈值， 设定所述数值 为0。 20.根据权利要求19所述的集成电路装置， 其中所述下阈值 为0.2。 21.根据权利要求12所述的集成电路装置， 其中所述处理装置根据坏点显现率决定相 对应特定大小的像素群在所述训练数据里 出现的次数。 22.一种板卡， 包括 根据权利要求12至21任一项所述的集成电路装置 。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115455798 A 3